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RFID干貨專欄|37 標簽性能測試

2022-06-06 14:20 RFID世界網(wǎng)
關鍵詞:RFID

導讀:甘泉老師花費數(shù)年之功,撰寫的新書《物聯(lián)網(wǎng)UHF RFID技術、產品及應用》正式出版發(fā)布,本書對UHF RFID最新的技術、產品與市場應用進行了系統(tǒng)性的闡述,干貨滿滿!RFID世界網(wǎng)得到了甘泉老師獨家授權,在RFID世界網(wǎng)公眾號特設專欄,陸續(xù)發(fā)布本書內容。

RFID干貨專欄概述

經過20多年的努力發(fā)展,超高頻RFID技術已經成為物聯(lián)網(wǎng)的核心技術之一,每年的出貨量達到了200億的級別。在這個過程中,中國逐步成為超高頻RFID標簽產品的主要生產國,在國家對物聯(lián)網(wǎng)發(fā)展的大力支持下,行業(yè)應用和整個生態(tài)的發(fā)展十分迅猛。然而,至今國內還沒有一本全面介紹超高頻RFID技術的書籍。

為了填補這方面的空缺,甘泉老師花費數(shù)年之功,撰寫的新書《物聯(lián)網(wǎng)UHF RFID技術、產品及應用》正式出版發(fā)布,本書對UHF RFID最新的技術、產品與市場應用進行了系統(tǒng)性的闡述,干貨滿滿!RFID世界網(wǎng)得到了甘泉老師獨家授權,在RFID世界網(wǎng)公眾號特設專欄,陸續(xù)發(fā)布本書內容。

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6.1 超高頻RFID測試技術

超高頻RFID測試的主要目的是選擇合適的標簽和閱讀器,并在實際應用中更好的應用。因此測試技術就需要從業(yè)人員熟練掌握標簽的性能評測方法和閱讀器的性能評測方法,以及如何在應用現(xiàn)場中測試并找出問題的能力。

6.1.1 標簽性能測試

在超高頻RFID領域,標簽的測試內容非常多,包括Inlay芯片的推力測試,標簽的防水防潮測試,高低溫沖擊測試等,其中最受關注的是標簽的性能測試。標簽的性能最簡單的體現(xiàn)是標簽能讀多遠,深層次的理解是這個標簽使用在不同物體上時,其靈敏度的頻率曲線是怎么樣的(靈敏度可以換算讀取距離)。為了能夠更準確的測試標簽的性能,需要在特定的環(huán)境中使用專用設備對標簽進行測試,同時還需要具備對批量的標簽進行性能篩選的功能,因此出現(xiàn)了微波暗室和標簽性能測試儀。

01

測試環(huán)境介紹——微波暗室

測試標簽性能時,閱讀器發(fā)出的電磁波會在地板、墻壁和天花板等發(fā)生反射,從而影響標簽處的電磁場分布,導致對標簽靈敏度測試產生誤差。這種電磁場的變化,有時候表現(xiàn)為增強,有時候表現(xiàn)為減弱。如圖6-1所示,為一個反射的案例,閱讀器(T)發(fā)出的電磁波通過路徑c倒帶標簽(R)處,與此同時,由于地面對電磁波存在反射效果,還可以通過路徑a、b到達標簽處。

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圖6-1電磁波的反射

此時標簽處收到兩個信號,如果兩個信號相位相等,則信號會增強,若兩個信號相位相差180°則會相互抵消,信號減弱(若兩個信號功率相同、相位相反,則合成后信號完全抵消),如圖6-2所示。

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(a)反射增強(b)反射減弱(抵消)

圖6-2電磁波反射增強或減弱

在對標簽進行測試時還經常遇到未知的外界電磁波干擾,這些干擾的來源有可能是通過手機或基站,也有可能是另外一臺閱讀器產生的。這些干擾也許會對標簽的性能或閱讀器的性能產生影響。

為了消除上述的反射影響和外界干擾,需要一個沒有反射或反射很小的環(huán)境進行測試,針對該問題,科學家發(fā)明了微波暗室。

微波暗室又叫吸波室、電波暗室。當電磁波入射到微波暗室的墻面、天棚、地面時,絕大部分電磁波被吸收,而透射、反射極少。微波也有光的某些特性,借助光學暗室的含義,故命名為微波暗室。微波暗室是吸波材料和金屬屏蔽體組建的特殊房間,它提供人為空曠的“自由空間”條件。在暗室內做天線、雷達等無線通訊產品和電子產品測試可以免受雜波干擾,提高被測設備的測試精度和效率。隨著電子技術的日益發(fā)展,微波暗室被更多的人了解和應用。微波暗室就是用吸波材料來制造一個封閉空間,這樣就可在暗室內制造出一個純凈的電磁環(huán)境,如圖6-3所示。

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圖6-3微波暗室照片

微波暗室材料可以是一切吸波材料,主要材料是聚氨酯吸波海綿。另外,測試電子產品電磁兼容性時,由于頻率過低也會采用鐵氧體吸波材料。

微波暗室的主要工作原理是根據(jù)電磁波在介質中從低磁導向高磁導方向傳播的規(guī)律,利用高磁導率吸波材料引導電磁波,通過共振,大量吸收電磁波的輻射能量,再通過耦合把電磁波的能量轉變成熱能,從而減小反射。

微波暗室由三部分組成,分別是屏蔽室、吸波材料和其它配件:

屏蔽室:由屏蔽殼體、屏蔽門、通風波導窗及各類電源濾波器等組成。屏蔽殼體通常采用焊接式,如圖6-4所示。其目的是保證外界的電磁波無法進入屏蔽室內。屏蔽室也可以單獨使用,對于只關注外界干擾問題的測試,可以在屏蔽室內完成,一般是一些傳導類測試。由于反射問題,屏蔽室內無法測試天線和標簽的性能。屏蔽室的好壞用隔離度表示,好的屏蔽室可以實現(xiàn)100dB的隔離。簡單測試屏蔽室隔離度的方法是把一部手機放進去,看是否還能被撥通。

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圖6-4屏蔽殼體

吸波材料:共有兩種,分別是單層鐵氧體片(工作頻率范圍30MHz到1000MHz)和錐形含碳海綿吸波材料。錐形含碳海綿吸波材料是由聚氨脂泡沫塑料在碳膠溶液中滲透而成,具有較好的吸波特性和阻燃特性。如圖6-5所示為一種帶有鐵氧體瓦塊匹配的角錐吸波材料,集成了鐵氧體片和海綿吸波材料。其在不同頻率的反射特性如表6-1所示。厚度越大的材料,吸收能力越強,反射越小。

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圖6-5錐形含碳海綿吸波材料

表6-1吸波材料的反射特性

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其它配件:主要有信號傳輸板、轉臺、天線、監(jiān)控系統(tǒng)等;微波暗室內轉臺如圖6-6(a)所示;微波暗室內天線如6-6(b)所示。。這些內部設備都通過屏蔽室中的連接器用射頻線纜與外界儀器、設備連接在一起,保證外部干擾信號不會通過這些連接線或接頭傳到微波暗室內。

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(a)轉臺(b)天線

圖6-6微波暗室內的其它配件

02

標簽性能測試原理

標簽的性能測試是為了了解標簽能工作多遠,憑直覺這個參數(shù)應該與標簽芯片選型、標簽天線設計、閱讀器天線增益、工作頻率等有關系。標簽的性能一般指標簽的靈敏度和反向散射的調制深度,其中最重要的是靈敏度。標簽性能的參數(shù)都無法通過設備直接獲取,需要配合閱讀器設備通過間接計算獲得。

根據(jù)弗林斯傳輸方程,式2-11:image.png,將標簽看作一個整體,可以變形為:

image.png(6-1)

其中Pr為標簽天線處收到的能量,標簽接收到得能量由閱讀器的輸出功率Pt、閱讀器的天線增益Gt、閱讀器距離標簽的距離R以及工作頻率f決定。

當標簽獲得的能量大于等于其自身靈敏度時,閱讀器可以獲得標簽的應答,當標簽獲得的能量小于自身靈敏度時,則標簽無法獲得標簽的應答。因此可以通過調節(jié)標簽獲得的能量大小尋找到剛剛可以激活標簽的臨界點,這個臨界點就是標簽的靈敏度Ptag_sens。調節(jié)標簽獲得的能量可以通過多種方式,包括調節(jié)標簽與閱讀器的距離、更換閱讀器天線或改變閱讀器的輸出功率。很顯然,通過更改閱讀器的輸出功率調節(jié)標簽處的能量強度的方式最方便。因此在標簽性能測試系統(tǒng)中閱讀器天線的增益及位置、標簽擺放的位置、測試環(huán)境等都是固定的,選擇一個固定頻率后,調節(jié)閱讀器輸出功率可以尋找激活標簽的臨界點對應的功率Pt即可。然后可以更改下一個頻率點,繼續(xù)尋找標簽在該頻點對應臨界點的功率Pt,當所有要測的頻點都測試之后,可以繪制一張關于標簽啟動功率(臨界值是閱讀器的輸出功率)與頻率的曲線,如圖6-7所示.

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圖6-7標簽啟動功率曲線

將上述參數(shù)通過式6-1計算出不同頻點Pr的值,再繪制成一個標簽靈敏度與頻率的曲線圖6-8??梢钥吹絻蓚€圖中只是標尺單位不同,其曲線是完全一樣的。這條曲線在圖中的位置越靠下越好,說明靈敏度越高。標簽工作在不同的頻點時,靈敏度不同,可以簡單的認為大于最高靈敏度3dB之間的頻率寬帶為該標簽的帶寬。該圖中標簽的帶寬為從840MHz到970MHz。

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圖6-8標簽靈敏度曲線

同理標簽反向散射的能量強度也通過式2-11:image.png,變形為:

image.png(6-2)

其中,標簽反向散射的能量為Ptag,Preader為閱讀器收到的RSSI值,Greader為閱讀器的天線增益。在固定閱讀器天線增益及位置、標簽擺放位置和測試環(huán)境后,選擇一個固定頻率,調節(jié)閱讀器輸出功率可以尋找激活標簽的臨界點對應的RSSI,然后更改下一個頻率點,繼續(xù)尋找標簽在該頻點對應臨界點的RSSI,當所有要測的頻點都測試之后,經過公式計算獲得標簽反向散射的信號強度與頻率的曲線如圖6-9所示。反向散射的信號強度特點與靈敏度相反,信號越大越好,閱讀器越容易解調。

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圖6-9標簽反向散射的信號強度與頻率的曲線

通過上述方法可以計算出標簽的靈敏度和反向散射強度。通過式6-2變形為:

image.png(6-3)

可以計算出標簽的工作距離R,其中Pt是閱讀器的最大輸出功率,。通過該原理讀者可以使用閱讀器開發(fā)對應的標簽性能測試軟件,是一個不錯的粗略標簽性能測試儀。其優(yōu)點是簡單容易實現(xiàn),其缺點是精度較差。

03、標簽性能測試設備Voyantic

基于普通閱讀器開發(fā)的標簽性能測試設備具有幾個嚴重問題:

普通閱讀器的工作頻率受限,一般不支持800MHz到1000MHz的全頻帶工作。

普通閱讀器并非寬帶匹配,其靈敏度在全頻帶不均勻。

普通閱讀器的輸出功率一般步進為1dB,且誤差1dB,無法作為測試設備的級別。

閱讀器天線在全頻段的增益并不固定,且不具有每個頻點的天線增益參數(shù)(靈敏度計算需要)。

由于上述問題,Voyantic公司開發(fā)了一款專用標簽性能測試設備,名為Tagformance。Tagformance是全球超高頻RFID生態(tài)鏈公認的標簽性能測試設備,所有的認證機構和主要的標簽設計廠商都具有該設備。如圖6-10為Voyantic的標簽靈敏度測試系統(tǒng),其硬件包括一臺Tagformance主機,一臺閱讀器天線、塑料泡沫支架和其他配件,使用時需要配合電腦上的應用軟件。

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圖6-10Voyantic標簽靈敏度測試系統(tǒng)

如圖6-11為Tagformance設備的軟件操作圖,這套測試系統(tǒng)的特點是為:

工作頻率寬泛:支持標準掃描模式,頻段為800MHz—1000MHz;支持超寬帶掃描模式,頻帶為700MHz~1100MHz(圖6-10中的天線只支持標準掃描模式,如使用超寬帶掃描需要更換超寬帶天線)。

輸出功率范圍寬泛:-5dBm~27dBm(標準掃描模式);-5dBm~24dBm(超寬帶掃描模式)。

接收靈敏度:-75dBm,這個參數(shù)并不重要,因為測試環(huán)境中標簽與閱讀器天線距離不是很遠,一般不會出現(xiàn)反向受限的情況。

輸出功率步進可選:可以選擇0.1dB、0.5dB和1.0dB。

掃描頻率起始值和步進均可選:掃描頻率步進從0.1MHz到100MHz可選。

塑料泡沫支架:為固定高度30cm,攜帶安裝簡單,對電磁波幾乎沒有影響。當沒有暗室等較好的測試環(huán)境時,可以直接按照圖6-10所示的方式進行測試。

天線:為寬帶平穩(wěn)增益的線極化天線。不選擇圓極化天線是由于軸比的問題,會引起1到3dB的測試誤差。測試時應注意標簽的極化方向與天線相同。

軟件:軟件內部具有多種功能,具有自動的公式轉換等功能,可以測量閱讀器開啟功率(Transmitted power),反向散射能量(Backscatteredpower),反向散射信號相位(Backscatteredsignal phase),通過這幾個參數(shù)可以計算出更多參數(shù):電場強度(Electricfield strength),反向散射雷達截面差值(DeltaRCS),標簽正向啟動功率(Power on tag forward),標簽反向散射功率(Power on tag reverse),理論正向讀取距離(Theoretical read range forward),理論反向工作距離(Theoretical read range forward)。

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圖6-11Tagformance操作軟件圖

雖然這套設備的硬件設備具有較高的精度,但仍然難免存在系統(tǒng)誤差,如饋線接頭的松緊,天線的擺放角度影響,或者由于環(huán)境溫度引起的射頻發(fā)射功率誤差。因此需要一套校準體系。Vojantic公司提供了一套校準系統(tǒng),如圖6-12所示為Tagformance校準系統(tǒng)說明圖。圖中有個校準標簽,系統(tǒng)預先知道該標簽的靈敏度和反向散射功率的頻率曲線。當系統(tǒng)掃描該校準標簽的時候,將得到的曲線與系統(tǒng)中存在的校準標簽參數(shù)進行比對,當發(fā)現(xiàn)兩條曲線有一定差異時,測試人員可以做相應調整直至兩條曲線近乎重合,從而減小系統(tǒng)誤差。

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圖6-12Tagformance校準系統(tǒng)說明圖

校準對于系統(tǒng)精度非常重要,每次測試前都應先校準。當更換測試環(huán)境時還需要重新丈量標簽與天線之間的距離,重新填入圖6-12的表格中。若更換天線和饋線,也要重新輸入?yún)?shù)(一般不建議更換)。

具體的測試過程為:先將被測試標簽放置在指定位置,再在軟件界面輸入起始頻率、頻率步進、功率步進,點擊開始掃描,如圖6-11所示,會出現(xiàn)一條曲線。若需要測試下一個標簽,需要將上一個標簽拿走,并放置新的標簽,再次點擊開始掃描。圖中會出現(xiàn)兩條曲線,每條曲線對應一個EPC號碼以及掃描時間,可以測試多個標簽并進行性能對比。

Tagformance還可以配合轉臺實現(xiàn)標簽的全向靈敏度測試,如圖6-13(a)所示,為在暗室中與Tagformance聯(lián)動的轉臺,軟件可以操作轉臺按照不同的步進轉動,每次轉動后進行掃描,最終可以繪制出一張標簽的全向圖,如圖6-13(b)所示,表現(xiàn)為標簽在各個方向的輻射特性。

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(a)聯(lián)動轉臺(b)輻射特性圖

圖6-13Tagformance全向靈敏度測試

Tagformance作為一個超高頻RFID標簽性能測試的高精度設備,建議配合暗室使用,標簽距離天線的距離也盡量遠一些(原裝的塑料泡沫支架距離30cm有些近,誤差會比較大)。由于現(xiàn)在TIPP認證需要全向測試,因此需要采購配套轉臺;如沒有TIPP認證需求一般不需要購買轉臺,如需了解標簽不同角度的輻射特性可以手動旋轉再測試。

04

標簽一致性測試

Tagformance設備是應用于實驗室測試的,主要用于開發(fā)和驗證標簽的性能。當大批量標簽需要出貨時,就需要標簽一致性測試設備和方法。標簽的一致性其實說的是標簽的性能一致性,需要篩選符合要求的標簽,濾除掉不符合要求的標簽。一致性測試與標簽性能研發(fā)測試的要求不同,它不需要獲得標簽具體的靈敏度數(shù)值,只關心標簽的是否符合要求;一致性測試要求快速的測試,一般測試時間小于1s,而性能研發(fā)測試對于測試時間不關心,一般為幾十秒或幾分鐘。

標簽一致性測試的實現(xiàn)方式:只測試關注的幾個頻點和幾個功率點。如圖6-14所示為針對三個頻點,每個頻點測試16個功率點(共需要測試48次)的一致性測試設置,圖6-14中會出現(xiàn)兩種不同顏色的點:綠色點表示標簽可以在該頻率和功率下被盤點到,紅色則表示無法盤點該標簽。用戶可以設置一個閾值,從而判斷這個標簽是否達標。

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圖6-14標簽一致性測試軟件圖

在實際應用中一般最多測試三個頻點,每個頻點最多測試三個功率點。測試的點越多測試時間越長,尤其是高速的卷對卷測試機的應用中,要求一小時實現(xiàn)1-2萬張標簽的測試。如圖6-45所示為一臺卷對卷標簽測試機,對于高速測試需求,卷對卷標簽測試機一般只做單頻點的單次功率測試,如果可以識別到標簽,則通過,如果識別失敗則認為標簽是不合格的。

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圖6-15卷對卷標簽測試機

對于特種標簽的測試,一般采用手工測試,可以搭建簡易的測試環(huán)境,與圖6-10 Tagformance所示的小平臺類似,一般測試3個頻點,每個頻點測試一個功率點,都通過則記為合格。還可以自制校準標簽提高系統(tǒng)的精度,并自制屏蔽環(huán)境和應用軟件。如圖6-16所示,為筆者開發(fā)的特種標簽測試系統(tǒng),包括硬件、屏蔽環(huán)境和測試軟件。屏蔽箱的制作:將一個天線固定在一個亞克力箱體的頂部,并用屏蔽網(wǎng)屏蔽粘貼在亞克力表面,亞克力箱體只留一面作為操作位。在使用校準標簽軟件校準并設置測試參數(shù)后,系統(tǒng)進入自動狀態(tài)。當標簽放入指定位置后,軟件會自動顯示通過還是失敗,操作員就將該標簽放入指定的收納箱中。

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(a)屏蔽箱及閱讀器天線(b)測試軟件

圖6-16特種標簽測試系統(tǒng)

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