明年春暖花開(kāi)，我們相約魔都!IOTE 2021第十五屆國(guó)際物聯(lián)網(wǎng)展·上海站將于2021年4月21-23日在上海世博展覽館開(kāi)展!屆時(shí)，上海聚星儀器有限公司(簡(jiǎn)稱(chēng)：聚星儀器)將為我們帶來(lái)RFID測(cè)試儀器的精彩展示。

上海聚星儀器有限公司

展位號(hào)：3A36

上海世博展覽館

2021年4月21-23日

公司簡(jiǎn)介

聚星儀器是一家專(zhuān)業(yè)從事測(cè)試測(cè)量?jī)x器研發(fā)服務(wù)、提供定制測(cè)試測(cè)量與控制儀器系統(tǒng)的高新技術(shù)企業(yè)。在RFID測(cè)試領(lǐng)域深耕多年，是EPCGlobal、NFCForum、Dash7 Alliance等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)會(huì)員。近場(chǎng)無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)獲得NFC射頻認(rèn)證測(cè)試儀器資質(zhì)：RFID測(cè)試儀獲得ISO18000-7認(rèn)證測(cè)試儀器資質(zhì)。聚星還參與了空口協(xié)議、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、800/900MHz、2.45GHz的國(guó)際和國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)制定。

特色產(chǎn)品推介

RFID快速應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng) JXI-R1120

RFID快速測(cè)試系統(tǒng)是一款基于TXI總線與軟件無(wú)線電技術(shù)的多功能RFID測(cè)試系統(tǒng)。應(yīng)用于UHF標(biāo)簽靈敏度測(cè)試與RFID現(xiàn)場(chǎng)分析。

電子標(biāo)簽全性能測(cè)試系統(tǒng) JXI-R1220

超高頻RFID電子標(biāo)簽全性能測(cè)試系統(tǒng)基于PXI矢量射頻模塊和 FPGA基帶模塊，集成了自主研發(fā)的RFID測(cè)試軟件，具有內(nèi)建的RFID協(xié)議棧，能夠?qū)崟r(shí)發(fā)射并采集RFID通訊的射頻信號(hào)，進(jìn)行完整的性能參數(shù)的測(cè)試與分析。本測(cè)試系統(tǒng)結(jié)合了先進(jìn)的模塊化儀器和軟件無(wú)線電技術(shù)，具有軟件自定義的特點(diǎn)，支持的超高頻標(biāo)準(zhǔn)包括：ISO/IEC 18000-63(18000-6C)、EPC UHF C1G2、GS1 TIPP、GB/T 29768、GJB 7377.1，而且只需要通過(guò)軟件升級(jí)的方式，就可以支持其他標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品測(cè)試。

射頻識(shí)別綜合測(cè)試系統(tǒng) JXI-R1200

射頻識(shí)別綜合測(cè)試儀基于PXI矢量射頻模塊和FPGA核心的中頻模塊，具有內(nèi)建的RFID協(xié)議棧，能夠?qū)崟r(shí)發(fā)射并采集RFID通訊的射頻信號(hào)，進(jìn)行完整的射頻參數(shù)及協(xié)議參數(shù)的分析測(cè)試。針對(duì)RFID閱讀器，標(biāo)簽或系統(tǒng)測(cè)試的不同需求，本測(cè)試儀可配置為閱讀器模擬器，標(biāo)簽?zāi)M器，信號(hào)監(jiān)聽(tīng)器等不同的測(cè)試模式。

RFID閱讀器測(cè)試系統(tǒng)JXI-R1110

RFID閱讀器測(cè)試系統(tǒng)主要用于高頻和超高頻閱讀器的符合性與性能測(cè)試。系統(tǒng)模擬標(biāo)簽的行為與被測(cè)閱讀器進(jìn)行應(yīng)答，同時(shí)獲取應(yīng)答過(guò)程中的波形與通信數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)射頻參數(shù)與協(xié)議參數(shù)的測(cè)量。系統(tǒng)支持標(biāo)簽?zāi)M器響應(yīng)功率的自動(dòng)調(diào)節(jié)與測(cè)量，可以快速測(cè)量閱讀器接收靈敏度。RFID閱讀器測(cè)試的典型應(yīng)用包括身份證閱讀器測(cè)試、電子車(chē)牌閱讀器測(cè)試等。

更多有關(guān)聚星儀器的RFID測(cè)試儀器，盡在IOTE 2021第十五屆國(guó)際物聯(lián)網(wǎng)展·上海站，歡迎大家親臨上海世博展覽館展臺(tái)號(hào)3A36。